GE DASH3000患者モニターにおける継続的な再起動は、一般的な臨床上の障害です

March 31, 2026

最新の会社ニュース GE DASH3000患者モニターにおける継続的な再起動は、一般的な臨床上の障害です

GE DASH3000モニターの継続的な再起動に関する障害分析と修理の提案

1. 障害概要

中国語

 
GE DASH3000モニターの継続的な再起動は、臨床でよく見られる障害であり、電源投入時の自己診断（POST）とGEロゴのロード後に自動的に電源が切れ、再起動するループ、またはスタンバイ/実行中に数秒から数分後に不規則に再起動し、患者モニタリングに深刻な影響を与えます。主な原因は5つのカテゴリに集中しています。異常な電源供給、DASモジュール障害、メインボード/ソフトウェアの異常、周辺機器/バッテリーの短絡、キーの短絡つです。
 

English

 
Continuous rebooting is a common clinical failure of GE DASH3000 patient monitor, characterized by automatic power-off and restart after power-on self-test (POST) and GE Logo loading, in a loop; or irregular rebooting after standby/running for several seconds to minutes, severely affecting patient monitoring. The core causes focus on five categories: abnormal power supply, DAS module failure, mainboard/software abnormality, peripheral/battery short circuit, and key short circuit.
 
 

2. 障害原因の詳細分析

 

（1）電源システムの異常

 

中国語

 
  1. 電源アダプターの障害：非純正アダプター、電圧不安定（12V±5%異常）、出力リップル過大、インターフェースの緩みにより、電源供給不足を引き起こし、再起動保護をトリガーします。
  2. 内部電源ボード/DASモジュール電源供給障害：DASモジュールの二次電源が発振せず、2つのコア電源（SPO2/IBP/CO2/ADC/MCU用、ECG増幅用）の電圧が低い/短絡しており、DASH3000の再起動の最も一般的なハードウェア原因です。
  3. バッテリー障害/短絡：バッテリーの経年劣化（膨張、2年以上使用）、セル短絡、バッテリーコンパートメントの接触不良、バッテリーとアダプター間の電源切り替えの異常が再起動をトリガーします。
  4. 電源インターフェース/ケーブルの緩み：メインボード、DASモジュール、電源ボード間のケーブルの緩みや酸化により、電源信号伝送が中断されます。
 

English

 
  1. Power Adapter Failure: Non-original adapter, unstable voltage (abnormal 12V±5%), excessive output ripple, or loose interface, causing insufficient power supply and triggering restart protection.
  2. Internal Power Board/DAS Module Power Supply Failure: The secondary power supply of DAS module fails to oscillate, and two core power supplies (one for SPO2/IBP/CO2/ADC/MCU, the other for ECG amplification) have low voltage/short circuit, which is the most common hardware cause of DASH3000 reboot.
  3. Battery Failure/Short Circuit: Battery aging (bulging, used for more than 2 years), cell short circuit, poor contact in battery compartment, and abnormal power switching between battery and adapter trigger reboot.
  4. Loose Power Interface/Cable: Loose or oxidized cables between mainboard, DAS module and power board, interrupting power signal transmission.
 

（2）DASモジュール障害

 

中国語

 
DAS（Data Acquisition System）モジュールはデータ収集のコアであり、80%以上の再起動障害はこのモジュールに起因します：
 
  1. MCUチップの異常：ECG/SPO2-IBPサブエリアのMCUの損傷、プログラムの暴走、システム自己診断の失敗と再起動。
  2. FLASHプログラムエラー：ファームウェアの損傷、データ損失、システムがプログラムをロードできず、周期的に再起動します。
  3. コンポーネントの損傷：焼損/リークした電源チップ、フォトカプラ、フィルターコンデンサ、巻線抵抗器、およびCO2サブボードの障害（焼損した抵抗器、過熱した電源モジュール）。
  4. デジタルアイソレーションチップの障害：損傷したアイソレーションチップが信号の乱れを引き起こし、システム保護と再起動をトリガーします。
 

English

 
DAS (Data Acquisition System) module is the core of data collection, more than 80% of reboot failures originate from this module:
 
  1. MCU Chip Abnormality: Damaged MCU in ECG/SPO2-IBP subarea, program runaway, system self-test failure and restart.
  2. FLASH Program Error: Firmware damage, data loss, system fails to load program and reboots cyclically.
  3. Component Damage: Burnt/leaky power chips, optocouplers, filter capacitors, wire-wound resistors, and CO2 sub-board failure (burnt resistors, overheated power modules).
  4. Digital Isolation Chip Failure: Damaged isolation chip causes signal disorder, triggering system protection and restart.
 

（3）メインボード/ソフトウェア/システムの異常

 

中国語

 
  1. メインボードハードウェア障害：CPU、サウスブリッジ、クロックチップの損傷、SRAM静的メモリテストの失敗、リアルタイムクロック（RTC）障害により、システムが正常に起動できません。
  2. システムデータオーバーフロー：ストレージがいっぱいの患者データ、自動クリア機能がないため、システムリソースが枯渇し再起動をトリガーします。
  3. ファームウェア/ブートプログラムの損傷：ブートコードが無効、メインプログラムのチェックサムエラーにより、「Flash test FAILED」などのエラーが表示されて再起動します。
  4. 時計用バッテリー切れ：RTCバッテリー切れ、時刻リセット、システム起動異常。